供貨總量：12套
發(fā)貨地點(diǎn)：上海市松江區(qū)
發(fā)布時(shí)間：2023-04-13
CST循環(huán)互聯(lián)應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)
C ST系列循環(huán)互聯(lián)應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)是用于 P CB的測(cè)試系統(tǒng)。其主要特點(diǎn)如下。
●可靈活選擇的測(cè)試位數(shù)，8-16不同數(shù)量的測(cè)試位
●1個(gè)H加熱端通道和x多3個(gè)L受熱端通道
●模塊化結(jié)構(gòu)
●校正，H加熱端以及 L受熱端的電阻測(cè)試，均可以進(jìn)行校正。
●系統(tǒng)自我檢查
●測(cè)試位測(cè)試參數(shù)可以獨(dú)立設(shè)置
●溫度測(cè)量通道自由選擇
●失效判斷通道自由選擇
●測(cè)試數(shù)據(jù)和狀態(tài)清楚展示，測(cè)試結(jié)果以表格，圖形等多種形式顯示。
●測(cè)試中途暫停，中斷/繼續(xù)
●測(cè)試數(shù)據(jù)自動(dòng)保存
●測(cè)試中修改循環(huán)數(shù)
●測(cè)試數(shù)據(jù)分析軟件
●一鍵輸出測(cè)試報(bào)告
Cycle Interconnect Stress Test system CST循環(huán)互聯(lián)應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品規(guī)格表
參數(shù)名稱 | 參數(shù)值 |
測(cè)試位 | 8位，12位，16位 |
H加熱端電阻測(cè)量范圍 | 0.001-30Ω |
L受熱端電阻測(cè)量范圍 | 0.001-200KΩ |
溫度測(cè)量范圍 | 室溫-300℃ |
加熱/冷卻時(shí)間設(shè)定范圍 | 10Sec-60min |
Reflow預(yù)處理 | 標(biāo)準(zhǔn) Reflow預(yù)處理 |
校正 | H加熱端和 L受熱端電阻校正，室溫測(cè)試校正。 |
系統(tǒng)自檢 | 冷卻風(fēng)扇自檢，電阻測(cè)試自檢，老化測(cè)試自檢。 |
溫度測(cè)量通道設(shè)定 | H加熱端或任意 L受熱端 |
失效判斷通道設(shè)定 | H加熱端或 L受熱端 |
測(cè)試位參數(shù)設(shè)定 | 各測(cè)試位獨(dú)立設(shè)定參數(shù) |
測(cè)試數(shù)據(jù)顯示 | 測(cè)試狀態(tài)表格，電阻及電阻變化表格，電阻及電阻變化曲線。 |
測(cè)試數(shù)據(jù)保存 | 實(shí)時(shí)自動(dòng)保存 |
測(cè)試中斷和修改 | 測(cè)試暫停，中斷后可以繼續(xù)測(cè)試，測(cè)試過(guò)程中可以修改循環(huán)數(shù)。 |
數(shù)據(jù)分析和報(bào)告軟件 | 獨(dú)立的數(shù)據(jù)分析軟件，一鍵生成測(cè)試報(bào)告 |
選配 | 失效孔定位分析模塊 分層測(cè)試模塊 |
●由于產(chǎn)品改進(jìn)，升級(jí)以及其他需要，產(chǎn)品特點(diǎn)、規(guī)格、外觀以及性能等可能在無(wú)預(yù)先告知的情況下出現(xiàn)變更。
