射頻干擾（RFI）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)支持診斷和分析9kHz-40GHz射頻干擾（RFI）電磁波所帶來(lái)的干擾問(wèn)題，使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，支持-90dBm以上射頻信號(hào)分析。支持頻率分布、功率分布、頻譜分布、諧波分布等多射頻干擾信號(hào)可視化分析功能，滿足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的輻射雜散問(wèn)題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射雜散評(píng)估、輻射雜散干擾源頭定位、替代物料輻射雜散評(píng)估、器件選型輻射雜散評(píng)估、成本降低輻射雜散性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射雜散性能評(píng)估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。借助掃描系統(tǒng)，電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測(cè)試和解決電磁兼容問(wèn)題。深圳全自動(dòng)近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)
提供一種電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描裝置與掃描方法,掃描裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,通過(guò)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確采集,通過(guò)空間移動(dòng)平臺(tái)和計(jì)算機(jī)協(xié)調(diào)工作實(shí)現(xiàn)對(duì)探頭位置的準(zhǔn)確控制,通過(guò)顯微攝像裝置準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)探頭與待測(cè)物品之間的距離,從而能夠準(zhǔn)確獲得待測(cè)物品的電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描結(jié)果,另外,探頭在掃描待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)時(shí),采用逐點(diǎn)掃描,實(shí)時(shí)采集傳輸,即每一次探頭移動(dòng),均采集一次數(shù)據(jù)并及時(shí)將采集到的數(shù)據(jù)發(fā)送至信號(hào)分析裝置,避免掃描過(guò)程中,掃描裝置自身對(duì)待測(cè)物品電磁場(chǎng)近場(chǎng)的影響,以及數(shù)據(jù)采集延時(shí)對(duì)信號(hào)準(zhǔn)確度的影響,從而更進(jìn)一步提高了掃描的精度和掃描結(jié)果的準(zhǔn)確度。長(zhǎng)沙電磁場(chǎng)近場(chǎng)掃描原理高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。
近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來(lái)。2.比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。4.高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)環(huán)境噪聲的要求不需要太嚴(yán)格。全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。近場(chǎng)掃描儀使用移動(dòng)的麥克風(fēng)來(lái)掃描整體聲源（如揚(yáng)聲器系統(tǒng)或安裝在障板上的換能器）近場(chǎng)中的聲壓。被測(cè)設(shè)備（<500kg）在掃描過(guò)程中不會(huì)移動(dòng)，這樣，非消聲環(huán)境中的反射就可以保持一致并通過(guò)新穎的分析軟件進(jìn)行監(jiān)測(cè)，該軟件使用聲學(xué)全息和場(chǎng)分離技術(shù)來(lái)提取直達(dá)聲并減少室內(nèi)反射。
散射近場(chǎng)測(cè)量：（1）常規(guī)天線電參數(shù)的測(cè)量：天線近場(chǎng)測(cè)量可以給出天線各個(gè)截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。（2）低副瓣或很低副瓣天線的測(cè)量：天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱(chēng)為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱(chēng)為很低副瓣天線。對(duì)它們的測(cè)量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)，副瓣電平在-40dB以上時(shí)，測(cè)量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時(shí)，測(cè)量精度為±5dB。近場(chǎng)測(cè)試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用。
極近場(chǎng)EMI掃描技術(shù)：掃描系統(tǒng)由一個(gè)掃描儀、小型適配器、一個(gè)客戶提供的頻譜分析儀和運(yùn)行掃描系統(tǒng)軟件的PC組成。臺(tái)式掃描儀包括2，436條回路，可產(chǎn)生1，218個(gè)間隔為7.5mm的磁場(chǎng)探針，形成一個(gè)電子開(kāi)關(guān)陣列并提供高達(dá)3.75mm的分辨率。系統(tǒng)工作頻率范圍為50kHz至4GHz，通過(guò)可選的軟件密鑰啟用。這樣，用戶就可以自行對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行測(cè)試，而不必依賴(lài)另外一個(gè)部門(mén)、測(cè)試工程師或進(jìn)行耗時(shí)的場(chǎng)外測(cè)試。工程師甚至可以在診斷一個(gè)間歇故障之后，對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行更改，很快再進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試的結(jié)果可以對(duì)設(shè)計(jì)更改的影響進(jìn)行精確的驗(yàn)證。借助掃描系統(tǒng)，電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測(cè)試和解決電磁兼容問(wèn)題，從而避免產(chǎn)生非預(yù)期的一致性測(cè)試結(jié)果。掃描儀的診斷功能可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將輻射測(cè)試時(shí)間縮短兩個(gè)數(shù)量級(jí)以上。一個(gè)電子開(kāi)關(guān)陣列并提供高達(dá)3.75mm的分辨率。深圳全自動(dòng)近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)
測(cè)試的結(jié)果可以對(duì)設(shè)計(jì)更改的影響進(jìn)行精確的驗(yàn)證。深圳全自動(dòng)近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)
三維近場(chǎng)掃描系統(tǒng)的制作方法：采集到的電磁參數(shù)被送到分析單元3，常用的分析單元3如矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(即PNA)，可將電磁參數(shù)表征的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為處理單元6所能識(shí)別的數(shù)字信號(hào)。這里的處理單元6具備處理運(yùn)算能力，可將數(shù)字信號(hào)通過(guò)一定的運(yùn)算和處理，計(jì)算出空間各點(diǎn)的電磁參數(shù)分布特性，終得出該介質(zhì)I對(duì)電磁波的響應(yīng)特性。由于需要采集空間中非常多的離散點(diǎn)，因此整個(gè)采集過(guò)程會(huì)非常漫長(zhǎng)，實(shí)驗(yàn)人員不可能始終在掃描系統(tǒng)守候直到掃描完成。但是一旦實(shí)驗(yàn)人員不在現(xiàn)場(chǎng)，當(dāng)掃描系統(tǒng)出現(xiàn)異常如移動(dòng)電機(jī)燒壞、室內(nèi)溫度過(guò)高等情況時(shí)，將造成系統(tǒng)損壞甚至其他不可預(yù)測(cè)的危害。深圳全自動(dòng)近場(chǎng)掃描方案系統(tǒng)