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北京專業(yè)超聲波探頭廠家

來源: 發(fā)布時間:2021-10-14

直探頭由插座、外殼、保護膜、壓電晶片、吸聲材料等組成,接觸面為可更換的軟膜。用于發(fā)射垂直于探頭表面?zhèn)鞑サ目v波,以探頭直接接觸工件表面的方式進行檢測。主要用于檢測與檢測面平行或近似平行的缺陷,如經(jīng)常用在棒材、板材、鍛件、鑄件等材料的檢測。橫波斜探頭是通過波形轉(zhuǎn)換來實現(xiàn)橫波檢測的。橫波波長短,檢測靈敏度高,主要用于檢測與檢測面垂直或成一定角度的缺陷,如焊縫中的未焊透、夾渣、裂紋、未融合等缺陷??v波斜探頭是利用小角度的縱波進行檢測,或者在橫波衰減過大的情況下,利用縱波穿透能力強的特點進行斜入射縱波檢測。醫(yī)療超聲探頭按應(yīng)用方式分為體內(nèi)探頭和體外探頭。北京專業(yè)超聲波探頭廠家

超聲探頭的使用方法:一般超聲波探傷儀的使用步驟都是先根據(jù)工件的尺寸,形式,用標(biāo)準(zhǔn)試塊進行超聲波探頭校準(zhǔn)、曲線制作,然后再進行現(xiàn)場超聲波探傷。使用前校準(zhǔn)超聲波探傷儀探頭,通過調(diào)整探傷靈敏度,使DAC曲線完整顯示在屏幕上,然后開始探傷。探傷時一般是使探頭垂直焊口走向并沿焊口走向做鋸齒型掃查,探頭沿焊口走向(前后)移動的距離:0~100mm。在超聲檢查過程中,超聲波的發(fā)射和接收都是通過探頭來實現(xiàn)的。探頭的性能直接影響超聲波的特性,影響超聲的成像效果。常用的超聲探頭包括相控陣探頭、凸陣探頭及線陣探頭。使用超聲探頭時,還有一個非常重要的一點,那就是,無論掃查哪個位置,操作者都要有一個支點于患者皮膚上,以確保出現(xiàn)好的圖像時,不會輕易劃走。焊接超聲探頭在哪買要注重保養(yǎng)超聲探頭以延長超聲探頭的使用壽命。

超聲探頭頻率的選擇:超聲波探傷頻率0.5~10MHz之間,選擇范圍大。一般選擇頻率時應(yīng)考慮以下因素:1、由于波的繞射,使超聲波探傷靈敏度約為波長的一半,因此提升頻率,有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷。2、頻率高,脈沖寬度小,分辨力高,有利于區(qū)分相鄰缺陷。3、頻率高,波長短,則半擴散角小,聲束指向性好,能量集中,有利于發(fā)現(xiàn)缺陷并對缺陷定位。4、頻率高,波長短,近場區(qū)長度大,對探傷不利。5、頻率增加,衰減急劇增加。由以上分析可知,頻率的高低對探傷有較大的影響,頻率高,靈敏度和分辨力高,指向性好,對探傷有利;但近場區(qū)長度大,衰減大,又對探傷不利。實際探傷中要全方面分析考慮各方面的因素,合理選擇頻率。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。

超聲波探頭一般有以下幾種:1)按耦臺方式分類按照探頭與被探工件表面的耦合方式可分為直接接觸式探頭和液授式探頭.2)按聲束形狀分類按照超聲波聲束的集與否可分為聚焦探頭和非聚焦探頭.3)按頻譜分類按超聲波頻譜可分為寬頻帶和窄頻帶探頭.4)按人射聲束方向分類按入射聲束方向可分為直探頭和斜探頭.5)按波型分類按被探工件中產(chǎn)生的波型可分為縱波探頭,橫渡探頭,板波探頭和表面波探頭.6)按晶片數(shù)目分類按照探頭中壓電晶片的數(shù)目可分為單晶探頭,雙晶探頭和多晶探頭.7)特殊探頭除一般探頭外,還有一些在特殊條件下和用于特殊目的的探頭.如機械掃描切換探頭,電子掃描陣列探頭,高溫探頭,瓷瓶探傷扁平探頭等。超聲波探傷儀直探頭由插座、外殼、保護膜、壓電晶片、吸聲材料等組成。

超聲波探頭如何選擇?探頭形式的選擇根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件選擇探頭形式,原則上應(yīng)盡量使聲束軸線與缺陷反射面相垂直。對于焊縫的探測,通常選用斜探頭。晶片尺寸的選擇:晶片尺寸大,聲束指向性好,能量大且集中,對探傷有利。但同時,又會使近場區(qū)長度增加,對探傷不利。實際探傷中,對于大厚度工件或粗晶材料的探傷,常采用大晶片探頭;而對于薄工件或表面曲率較大的工件探傷,宜選用小晶片探頭。頻率的選擇:頻率是制定探傷工藝的重要參數(shù)之一。醫(yī)療雙晶超聲探頭中晶片為中心部分,是個高能傳感器。廣州焊接超聲探頭廠商

對超聲探頭進行清潔、消毒,可以保護超聲探頭不受損壞。北京專業(yè)超聲波探頭廠家

常見超聲探頭故障種類與原因有哪些?成像顯示區(qū)域有黑影:成像顯示區(qū)域如果出現(xiàn)黑影或者圖像缺損,除了觀察探頭外觀表層聲透鏡沒有明顯的破損,而造成此類故障的另外一種可能就是,探頭的晶體老化跟晶體短路。而B超探頭內(nèi)部多數(shù)采用的是壓電晶體,長期使用會造成晶體自然老化,不規(guī)范的使用或摔、碰等外力擊打會造成探頭晶體的損傷,晶體損傷后B超檢測儀檢測的圖像就會出現(xiàn)信號衰減、圖像中有黑影、黑條、干擾、缺損等盲區(qū),嚴重時圖像則會“失明”,影響診斷質(zhì)量。晶片的短路可通過測量晶片的供電電壓來判斷,若某一晶片或晶片組的供電電壓較其他低,則可判斷該晶片或晶片組內(nèi)有短路。更換相應(yīng)的晶片,使得探頭恢復(fù)以前的特性,干擾消失。北京專業(yè)超聲波探頭廠家

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