邁克爾遜干涉儀的*****應(yīng)用即是它在邁克爾遜-莫雷實(shí)驗(yàn)中對(duì)以太風(fēng)觀測(cè)中所得到的零結(jié)果，這朵十九世紀(jì)末經(jīng)典物理學(xué)天空中的烏云為狹義相對(duì)論的基本假設(shè)提供了實(shí)驗(yàn)依據(jù)。除此之外，由于激光干涉儀能夠非常精確地測(cè)量干涉中的光程差，在當(dāng)今的引力波探測(cè)中邁克爾遜干涉儀以及其他種類(lèi)的干涉儀都得到了相當(dāng)廣泛的應(yīng)用。激光干涉引力波天文臺(tái)（LIGO）等諸多地面激光干涉引力波探測(cè)器的基本原理就是通過(guò)邁克爾遜干涉儀來(lái)測(cè)量由引力波引起的激光的光程變化，而在計(jì)劃中的激光干涉空間天線（LISA）中，應(yīng)用邁克爾遜干涉儀原理的基本構(gòu)想也已經(jīng)被提出。邁克爾遜干涉儀還被應(yīng)用于尋找太陽(yáng)系外行星的探測(cè)中，雖然在這種探測(cè)中馬赫-曾特干涉儀的應(yīng)用更加***。邁克爾遜干涉儀還在延遲干涉儀，即光學(xué)差分相移鍵控解調(diào)器（Optical DPSK）的制造中有所應(yīng)用，這種解調(diào)器可以在波分復(fù)用網(wǎng)絡(luò)中將相位調(diào)制轉(zhuǎn)換成振幅調(diào)制。雙頻激光干涉儀的發(fā)明使激光干涉儀擺脫了計(jì)量室的束縛，更為廣泛的應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中。常熟定制雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

經(jīng)M2反射的光三次穿過(guò)G2分光板，而經(jīng)M1反射的光通過(guò)G2分光板只一次。G1補(bǔ)償板的設(shè)置是為了消除這種不對(duì)稱(chēng)。在使用單色光源時(shí)，可以利用空氣光程來(lái)補(bǔ)償，不一定要補(bǔ)償板；但在復(fù)色光源時(shí)，由于玻璃和空氣的色散不同，補(bǔ)償板則是不可或缺的。如果要觀察白光的干涉條紋，臂基本上完全對(duì)稱(chēng)，也就是兩相干光的光程差要非常小，這時(shí)候可以看到彩色條紋；假若M1或M2有略微的傾斜，就可以得到等厚的交線處（d=0）的干涉條紋為中心對(duì)稱(chēng)的彩色直條紋，**條紋由于半波損失為暗條紋。邁克爾遜和愛(ài)德華·威廉姆斯·莫雷使用這種干涉儀于1887年進(jìn)行了***的邁克耳遜-莫雷實(shí)驗(yàn)，并證實(shí)了以太的不存在。昆山安裝雙頻激光干涉儀設(shè)備廠家激光發(fā)射：激光器發(fā)出單色光束。

反射光和透射光分別垂直入射到全反射鏡M1和M2，它們經(jīng)反射后回到G1（左）的半透半反射膜處，再分別經(jīng)過(guò)透射和反射后，來(lái)到觀察區(qū)域E。G2（右）為補(bǔ)償板，它與G1為相同材料，有相同的厚度，且平行安裝，目的是要使參加干涉的兩光束經(jīng)過(guò)玻璃板的次數(shù)相等，兩束光在到達(dá)觀察區(qū)域E時(shí)沒(méi)有因玻璃介質(zhì)而引入額外的光程差。當(dāng)M2和M1'嚴(yán)格平行時(shí)，表現(xiàn)為等傾干涉的圓環(huán)形條紋，移動(dòng)M2時(shí),會(huì)不斷從干涉的圓環(huán)中心“吐出”或向中心“吞進(jìn)”圓環(huán)。兩平面鏡之間的“空氣間隙”距離增大時(shí)，中心就會(huì)“吐出”一個(gè)個(gè)條紋；反之則“吞進(jìn)”。M2和M1'不嚴(yán)格平行時(shí)，則表現(xiàn)為等厚干涉條紋，移動(dòng)M2時(shí)，條紋不斷移過(guò)視場(chǎng)中某一標(biāo)記位置，M2平移距離 d 與條紋移動(dòng)數(shù) N 的關(guān)系滿(mǎn)足：d=Nλ/2，λ為入射光波長(zhǎng)。

檢驗(yàn)光學(xué)元件泰曼干涉儀被普遍用來(lái)檢驗(yàn)平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個(gè)光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評(píng)估透鏡的波像差。引力波測(cè)量干涉儀也可以用于引力波探測(cè)(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測(cè)器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]。 1969年美國(guó)科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實(shí)驗(yàn)室建造初步的試驗(yàn)系統(tǒng)（Weiss 1972） [6]激光干涉儀是一種利用激光干涉原理進(jìn)行測(cè)量的精密儀器。

激光干涉測(cè)量?jī)x是一種基于激光干涉原理的高精度計(jì)量?jī)x器，廣泛應(yīng)用于工程與技術(shù)科學(xué)領(lǐng)域 [1-2]。該儀器通過(guò)測(cè)量激光波長(zhǎng)變化實(shí)現(xiàn)幾何量的檢測(cè)，具備抗干擾能力強(qiáng)、精度高等特點(diǎn)。主要應(yīng)用場(chǎng)景包括數(shù)控機(jī)床校準(zhǔn)、三坐標(biāo)機(jī)校準(zhǔn)、光學(xué)平臺(tái)校準(zhǔn)等，通過(guò)與不同光學(xué)組件結(jié)合，可檢測(cè)線性位移、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等參數(shù) [2]截至2020年11月，激光干涉測(cè)量?jī)x的技術(shù)參數(shù)包括 [1]：標(biāo)準(zhǔn)量程：0-40米測(cè)量精度：±0.5 ppm分辨率：1納米比較大速率：240米/分鐘角度測(cè)量精度：0.2%而雙頻激光干涉儀正好克服了這一弱點(diǎn)，它是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。吳江區(qū)耐用雙頻激光干涉儀五星服務(wù)

激光干涉儀廣泛應(yīng)用于精密測(cè)量、材料科學(xué)、光學(xué)研究、工程檢測(cè)等領(lǐng)域。常熟定制雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

激光干涉測(cè)量?jī)x通過(guò)雙頻激光技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度線性位移測(cè)量，適用于車(chē)間生產(chǎn)環(huán)境下的數(shù)控機(jī)床校準(zhǔn)、三坐標(biāo)機(jī)校準(zhǔn)及光學(xué)平臺(tái)校準(zhǔn)。其測(cè)量鏡組可擴(kuò)展功能，支持直線度、垂直度等幾何量檢測(cè) [2]。該儀器的系統(tǒng)包括 [2]：1.雙頻激光頭及附件2.環(huán)境補(bǔ)償單元3.測(cè)量軟件、分析軟件4.各類(lèi)測(cè)量鏡組激光干涉測(cè)量?jī)x的優(yōu)勢(shì)包括緊湊設(shè)計(jì)、自動(dòng)環(huán)境補(bǔ)償及符合測(cè)校國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量分析軟件。截至2023年8月，典型型號(hào)LH3000的測(cè)量速度可達(dá)2米/秒，頻差為7±0.5MHz [2]。常熟定制雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

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