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DDR（Double Data Rate）是一種常見的動態(tài)隨機存取存儲器（DRAM）技術(shù)，它提供了較高的數(shù)據(jù)傳輸速度和帶寬。以下是DDR系統(tǒng)的概述： 架構(gòu)：DDR系統(tǒng)由多個組件組成，包括主板、內(nèi)存控制器、內(nèi)存槽和DDR內(nèi)存模塊。主板上的內(nèi)存控制器負責(zé)...

以太網(wǎng)的標準拓撲結(jié)構(gòu)為總線型拓撲，但目前的快速以太網(wǎng)（100BASE-T、1000BASE-T標準）為了減少，將能提高的網(wǎng)絡(luò)速度和使用效率比較大化，使用交換機來進行網(wǎng)絡(luò)連接和組織。如此一來，以太網(wǎng)的拓撲結(jié)構(gòu)就成了星型；但在邏輯上，以太網(wǎng)仍然使用總線型拓撲和CS...

DDR4（Double Data Rate 4）是第四代雙倍數(shù)據(jù)率內(nèi)存標準，是當前主流的內(nèi)存技術(shù)之一。相比于之前的內(nèi)存標準，DDR4提供了更高的數(shù)據(jù)傳輸速度、更低的電壓需求和更大的內(nèi)存容量，因此在各種計算機應(yīng)用場景中得到廣泛應(yīng)用。 DDR4內(nèi)存的主要...

在驗證DDR4內(nèi)存的兼容性時，需要考慮與主板、處理器和其他硬件的兼容性。以下是一些常用的方法和注意事項：主板兼容性驗證：主板制造商的規(guī)格文檔：查閱主板制造商的規(guī)格文檔，了解支持的DDR4內(nèi)存類型、頻率和容量等信息。主板兼容性列表：主板制造商通常提供兼容性列表，...

DDR4內(nèi)存的時序配置是指一系列用于描述內(nèi)存訪問速度和響應(yīng)能力的參數(shù)。這些參數(shù)的值需要在內(nèi)存模塊和內(nèi)存控制器之間進行一致配置，以確保正確地讀取和寫入數(shù)據(jù)。以下是常見的DDR4內(nèi)存的時序配置參數(shù)： CAS延遲（CL，Column Address Str...

確定性適用于運動控制應(yīng)用運動控制依賴于精確通信。這種精確性通過使用基于時隙的調(diào)度來支持，每個設(shè)備在調(diào)度策略中都有一個與其它設(shè)備進行通信的調(diào)度表。這些伺服驅(qū)動器和控制器計算出它們各自的時序，由此可計算出控制函數(shù)的ΔT值。但是，如果數(shù)據(jù)傳輸變得無法預(yù)測，則可能會丟...

產(chǎn)生抖動的原因有很多，常見的一種由于噪聲引起的。 一個帶噪聲的數(shù)字信號及其判決。一般我們把數(shù)字信號超過閾值的狀態(tài)判決為“1”，把低于閾值的狀態(tài)判決為"0",由于信號的上升沿不是無限陡的，所以噪聲會引起信號過閾值點時刻的左右變化，這就是由噪聲引起的信號...

當涉及到DDR5的測試時，以下是一些相關(guān)的概念和技術(shù)： 時序測試（Timing Test）：對DDR5進行時序測試是非常重要的。這包括時鐘速率、延遲、預(yù)充電時間以及各種時序參數(shù)的測量和驗證。通過時序測試，可以確保內(nèi)存模塊在正確時序下完成數(shù)據(jù)讀取和寫入...

時鐘恢復(fù)：發(fā)送器需要能夠使用從接收器得到的時鐘信息來恢復(fù)數(shù)據(jù)時鐘。它必須能夠通過鎖定到正確的數(shù)據(jù)時鐘邊沿來確保數(shù)據(jù)的準確和穩(wěn)定傳輸。時鐘恢復(fù)速度：發(fā)送器的時鐘恢復(fù)時間也是一個關(guān)鍵參數(shù)。它應(yīng)該能夠在接收器處發(fā)生時鐘頻率、時鐘相位或其他變化時，盡快進行適應(yīng)和恢復(fù)。...

使用SystemSI進行DDR3信號仿真和時序分析實例 SystemSI是Cadence Allegro的一款系統(tǒng)級信號完整性仿真工具，它集成了 Sigrity強大的 電路板、封裝等互連模型及電源分布網(wǎng)絡(luò)模型的提取功能。目前SystemSI提供并行總...

DDR4內(nèi)存的基本架構(gòu)和組成部分包括以下幾個方面： 內(nèi)存芯片（DRAM Chip）：DDR4內(nèi)存芯片是DDR4內(nèi)存模塊的重點組件，其中包含了內(nèi)存存儲單元。每個內(nèi)存芯片由多個DRAM存儲單元組成，每個存儲單元通常可以存儲一個位（0或1），用于存儲數(shù)據(jù)。...

供電和散熱：DDR5內(nèi)存的穩(wěn)定性和兼容性還受到供電和散熱條件的影響。確保適當?shù)碾娫垂?yīng)和散熱解決方案，以保持內(nèi)存模塊的溫度在正常范圍內(nèi)，防止過熱導(dǎo)致的不穩(wěn)定問題。 基準測試和調(diào)整：對DDR5內(nèi)存進行基準測試和調(diào)整是保證穩(wěn)定性和兼容性的關(guān)鍵步驟。通過使...

波形測試在LVDS發(fā)射端一致性測試中起著重要的作用。它主要用于評估LVDS發(fā)射器輸出信號的波形特性，包括上升沿和下降沿的斜率、持續(xù)時間，以及信號的穩(wěn)定性和一致性。波形測試可以揭示信號傳輸過程中的時序問題、信號失真或其他異常情況，從而對系統(tǒng)的性能和可靠性進行評估...

以太網(wǎng)物理層測試主要包括以下幾種類型：傳輸介質(zhì)和連接硬件測試：包括對雙絞線、同軸電纜、光纖等傳輸介質(zhì)的測試，以及對接插件、面板、轉(zhuǎn)換器等硬件的測試。這些測試通常包括驗證連接是否正常、是否能夠支持特定的傳輸速率等指標。信號質(zhì)量和衰減測試：包括對以太網(wǎng)信號的幅度、...

以太網(wǎng)物理層測試具有重要性的原因如下：確保網(wǎng)絡(luò)穩(wěn)定性：以太網(wǎng)物理層測試可以幫助識別和排除電纜連通性問題、信號衰減和串擾等物理層故障，從而確保網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定性和可靠性。通過測試和解決這些問題，可以避免網(wǎng)絡(luò)中斷、數(shù)據(jù)丟失或傳輸錯誤。提高數(shù)據(jù)傳輸質(zhì)量：物理層測試可以評估...

瀏覽選擇控制器的IBIS模型，切換到Bus Definition選項卡，單擊Add按鈕添加一 組新的Buso選中新加的一行Bus使其高亮，將鼠標移動到Signal Names下方高亮處，單擊 出現(xiàn)的字母E,打開Signal列表。勾選組數(shù)據(jù)和DM信號，單擊0...

保證數(shù)據(jù)可靠傳輸：傳輸速率直接影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)臅r間和效率。通過傳輸速率測試，可以確保發(fā)射器能夠以規(guī)定的速率穩(wěn)定地傳輸數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)丟失、傳輸錯誤或傳輸延遲，從而保證高質(zhì)量、可靠的數(shù)據(jù)傳輸。符合技術(shù)標準和規(guī)范：傳輸速率常常符合相關(guān)的技術(shù)標準和規(guī)范要求。通過傳輸速率...

分析波形和參數(shù)：使用實時信號分析儀器，可以對捕獲的信號波形進行觀察和分析?？梢栽u估信號的幅度、時鐘邊沿、噪聲、抖動等參數(shù)，以確保與PCIe 3.0規(guī)范的要求一致。誤碼率測試：實時信號分析儀器還可以用于執(zhí)行誤碼率測試，從而量化發(fā)送器輸出的信號質(zhì)量。通過生成特定的...

DDR 規(guī)范的時序要求 在明確了規(guī)范中的 DC 和 AC 特性要求之后，下一步，我們還應(yīng)該了解規(guī)范中對于信號的時序要求。這是我們所設(shè)計的 DDR 系統(tǒng)能夠正常工作的基本條件。 在規(guī)范文件中，有很多時序圖，筆者大致計算了一下，有 40 個左右。作...

以太網(wǎng)用于運動控制的三個原因以太網(wǎng)正成為工業(yè)應(yīng)用中日益重要的網(wǎng)絡(luò)。就運動控制而言，以太網(wǎng)、現(xiàn)場總線以及其他技術(shù)（如組件互連）歷來都是相互競爭的，用以在工業(yè)自動化和控制系統(tǒng)中獲得對一些苛刻要求的工作負載的處理權(quán)限。運動控制應(yīng)用要求確定性（保證網(wǎng)絡(luò)能夠及時將工作負...

錯誤檢測和糾正（ECC）功能測試：DDR5內(nèi)存模塊具備錯誤檢測和糾正的功能，可以檢測并修復(fù)部分位錯誤。測試過程涉及注入和檢測位錯誤，并驗證內(nèi)存模塊的糾錯能力和數(shù)據(jù)完整性。 功耗和能效測試：功耗和能效測試是評估DDR5內(nèi)存模塊在不同負載和工作條件下的功...

當鏈路速率不斷提升時，給接收端留的信號裕量會越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義，信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_接收端，并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV, 小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小 ...

信號完整性測試：測試各個信道上數(shù)據(jù)和時鐘信號的完整性，確保其傳輸過程中不受外界干擾和噪聲的影響。可以通過插入噪聲信號、調(diào)整傳輸速率和負載等方式進行測試。報告生成和記錄：對每個測試用例的測試結(jié)果進行記錄，并生成相關(guān)的測試報告。報告應(yīng)包括測試參數(shù)、實際測量值、與規(guī)...

錯誤檢測和糾正（ECC）功能測試：DDR5內(nèi)存模塊具備錯誤檢測和糾正的功能，可以檢測并修復(fù)部分位錯誤。測試過程涉及注入和檢測位錯誤，并驗證內(nèi)存模塊的糾錯能力和數(shù)據(jù)完整性。 功耗和能效測試（Power and Efficiency Test）：功耗和能...

除了LVDS發(fā)射端一致性測試，還有其他與LVDS相關(guān)的測試項目。以下是一些常見的LVDS相關(guān)測試項目：LVDS接收端一致性測試：與LVDS發(fā)射端一致性測試相類似，LVDS接收端一致性測試用于評估LVDS接收器的性能和一致性，包括電平一致性、時序一致性、抗干擾能...

進行串擾測試：啟動測試儀器進行串擾測試。儀器將通過一個線對，向電纜發(fā)送信號，并測量從相鄰線對上干擾引入的噪音。測試儀器將提供串擾值，表示信號在相鄰線對上的干擾程度。檢查測試結(jié)果：測試儀器將顯示衰減和串擾的測量結(jié)果。檢查這些結(jié)果是否符合規(guī)定的標準和要求。如果衰減...

其他硬件兼容性驗證：PCI Express (PCIe)兼容性：如果使用了PCIe擴展卡或M.2 SSD，需要確保DDR4內(nèi)存的安裝方式不會干涉到這些硬件設(shè)備。電源供應(yīng)：DDR4內(nèi)存的使用可能會對電源供應(yīng)有一定要求，確保電源能夠提供足夠的功率和穩(wěn)定的電壓以支持...

DDR信號的DC和AC特性要求之后，不知道有什么發(fā)現(xiàn)沒有?對于一般信號而言，DC和AC特性所要求(或限制)的就是信號的電平大小問題。但是在DDR中的AC特性規(guī)范中，我們可以注意一下，其Overshoot和Undershoot指向的位置，到底代表什么含義?有些讀...

LVDS發(fā)射端一致性測試的結(jié)果可以作為產(chǎn)品質(zhì)量的一個重要指標之一。LVDS發(fā)射器的一致性測試旨在評估其性能參數(shù)和特性是否符合設(shè)計要求和規(guī)范，以驗證并確保產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和一致性。以下是LVDS發(fā)射端一致性測試結(jié)果作為產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標的幾個方面：產(chǎn)品性能保...

性能儀器測試：使用性能儀器，如誤碼率測試儀（BERT）或總線模擬器，對發(fā)送器輸出信號進行驗證和分析。這些設(shè)備可提供誤碼率、串擾、信號失真等指標的測量，從而評估發(fā)送器信號的質(zhì)量和性能。通道仿真：通過將發(fā)送器連接到信道仿真器，模擬不同的傳輸場景和通道條件。這可以幫...